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電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)與X熒光光譜儀(XRF)主要差異有哪些

來(lái)源:中國(guó)儀器儀表網(wǎng) 作者:張大攝 日期:2025-07-23 23:10:40
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       【儀器儀表網(wǎng) 專題推薦】電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)與X熒光光譜儀(XRF)的主要差異對(duì)比表如下,本文從性能參數(shù)、應(yīng)用范圍和預(yù)算價(jià)格三方面進(jìn)行比較:

電感耦合等離子體光譜儀廠家


性能參數(shù)對(duì)比

指標(biāo)電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)X熒光光譜儀(XRF)
檢測(cè)原理高溫等離子體激發(fā)原子/離子發(fā)射特征光譜X射線激發(fā)樣品原子產(chǎn)生熒光輻射
檢測(cè)限ppb級(jí)(痕量分析),靈敏度高ppm級(jí)(常量/微量分析),靈敏度較低
元素覆蓋范圍可檢測(cè)70+種元素(包括輕元素如Li、Be等)主要檢測(cè)原子序數(shù)≥11(Na)以上的元素
樣品類型需液態(tài)樣品(需酸消解前處理)可直接分析固體、粉末、液體、薄膜(無(wú)需復(fù)雜前處理)
分析速度單次多元素分析(約1-5分鐘)快速(數(shù)秒至數(shù)分鐘),適合現(xiàn)場(chǎng)快速篩查
破壞性破壞性檢測(cè)(樣品需溶解)非破壞性檢測(cè)(樣品可重復(fù)使用)

應(yīng)用范圍對(duì)比

領(lǐng)域ICP-OESXRF
環(huán)境監(jiān)測(cè)水質(zhì)、土壤中痕量重金屬(Pb、Cd、As等)檢測(cè)土壤重金屬現(xiàn)場(chǎng)篩查、大氣顆粒物成分分析
材料科學(xué)合金成分精確分析、高純材料雜質(zhì)檢測(cè)金屬成分快速鑒定、鍍層厚度測(cè)量
地質(zhì)礦產(chǎn)礦石中微量元素定量分析礦石品位快速評(píng)估、稀土元素定性分析
工業(yè)質(zhì)檢電子元件材料痕量雜質(zhì)檢測(cè)RoHS指令有害物質(zhì)(Br、Hg、Cr等)合規(guī)性檢測(cè)
生物/醫(yī)藥血液、組織中微量元素分析(如Fe、Zn、Se)藥品中金屬催化劑殘留檢測(cè)

預(yù)算價(jià)格對(duì)比

項(xiàng)目ICP-OESXRF
設(shè)備購(gòu)置成本較高(80萬(wàn)-300萬(wàn)人民幣,依配置而定)手持式:20萬(wàn)-80萬(wàn)人民幣
臺(tái)式:50萬(wàn)-200萬(wàn)人民幣
運(yùn)行成本高(氬氣消耗、高頻發(fā)生器維護(hù))低(X射線管壽命有限,但維護(hù)頻率低)
操作人員要求需專業(yè)培訓(xùn)(涉及復(fù)雜前處理與儀器調(diào)試)簡(jiǎn)單易用(手持式可現(xiàn)場(chǎng)操作,無(wú)需專業(yè)背景)

總結(jié)

  • ICP-OES:適合痕量、多元素、高精度分析,但成本高、前處理復(fù)雜,適用于實(shí)驗(yàn)室環(huán)境。

  • XRF:優(yōu)勢(shì)在于快速、無(wú)損、便攜,適合現(xiàn)場(chǎng)篩查和工業(yè)質(zhì)檢,但對(duì)輕元素檢測(cè)能力有限。

根據(jù)檢測(cè)需求(靈敏度、元素范圍、預(yù)算)和場(chǎng)景(實(shí)驗(yàn)室/現(xiàn)場(chǎng))選擇合適儀器。

 


 
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