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FLIR X-HS紅外熱像儀助力-80°C至+3000°C的寬溫度范圍內精準測溫

來源:中國儀器儀表網(wǎng) 作者:張大攝 日期:2025-07-23 23:10:40
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  【儀器儀表網(wǎng) 專題推薦】FLIR X-HS系列科學紅外熱像儀可主要應用在彈道學、無損檢測、作應力圖PCB和電子部件測試、輻射測量等相關行業(yè)。

  FLIR X-HS系列gao端紅外熱像儀是一款集精密測量與廣泛應用性于一體的高性能科學級設備能夠在-80°C至+3000°C的寬溫度范圍內識別細微至0.02°C的溫度變化。

FLIR X-HS系列科學紅外熱像儀

  FLIR X-HS系列熱像儀配備了高達4TB的大容量高速固態(tài)硬盤(SSD)無損記錄系統(tǒng),可確保每一次紅外圖像采集與數(shù)據(jù)傳輸都能以高保真度進行長時間、不間斷的保存。無遺漏、無失真。

  結合其中波紅外(MWIR)和長波紅外(LWIR)光譜的兼容性,以及10GigE和CoaXPress(CXP)2.1的高速接口,F(xiàn)LIR X-HS系列熱像儀不僅滿足了嚴苛的科研需求,更成為專業(yè)人士在復雜測試場景中不可或缺的得力助手。


 
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